芯片功能的常用测试手段或方法几种

时间:2024-10-18 19:03:27

1、软件的实现

根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求,编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。

根据基于可编程器件建立测试平台的设计思想,功能测试平台的构建方法如下:采用可编程逻辑器件进行输入激励的产生和输出响应的处理;采用ROM来实现DSP核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数的存储;采用SRAM作为片外缓存。

2、 硬件的实现

根据功能测试平台的实现框图进行了原理图和PCB的设计,最后设计完成了一个可对“成电之芯”进行功能测试的系统平台。

芯片功能的常用测试手段或方法几种

扩展资料:

可编程逻辑器件分类:

1、固定逻辑器件中的电路是永久性的,它们完成一种或一组功能 - 一旦制造完成,就无法改变。

2、可编程逻辑器件(PLD)是能够为客户提供范围广泛的多种逻辑能力、特性、速度和电压特性的标准成品部件 - 而且此类器件可在任何时间改变,从而完成许多种不同的功能。

参考资料来源:百度百科-可编程逻辑器件

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